SEM - Microscopia Eletrónica Secundária
O Zeiss SUPRA 55-VP é um microscópio eletrónico de varrimento (SEM) com um canhão de electrões de emissão de campo (FEG). Este é o tipo mais brilhante de fonte de electrões e proporciona a maior corrente de feixe e capacidade de resolução
O SUPRA é capaz de lidar com uma grande variedade de amostras, desde materiais condutores e semicondutores, até amostras grandes, sensíveis ao feixe ou não condutoras. Tem uma resolução até à gama de nm e modos de imagem de electrões secundários, retrodifusão e na lente. As medições podem também ser efectuadas sob uma pressão variável.
O sistema possui um espetrómetro de raios X dispersivos em energia (EDX) da Oxford Instruments que permite a análise da composição elementar com um limite de deteção de aproximadamente 0,5 átomos por cento.
Em combinação com os mais modernos equipamentos de preparação, o SEM é uma ferramenta poderosa para a análise de superfícies e secções transversais.
Aplicações
- Imagens à escala de mm a nm
- Topografia ou Densidade-Contraste de Elementos
Especificações técnicas
Microscópio Eletrónico de Varrimento por Emissão de Campo Zeiss Supra 55VP
- Resolução ultra elevada a baixa kV: 1,7 nm a 1,0 kV, 4 nm a 0,1 kV
- Detetor In-lens de elevada eficiência para obtenção de imagens topográficas nítidas em modo de alto vácuo
- Análise de raios X em modo de alta corrente ultra estável e aplicações EBSD; melhor que 0,2%/h
- Grande plataforma eucêntrica motorizada de 5 eixos
